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放射線技術 物性・構造解析 界面構造

001 論文  低・中速イオン後方散乱を用いた表面・界面の結晶構造解析
002 論文  X線回折法による表面結晶構造解析
003 論文  陽電子を用いた表面状態解析
004 論文  イオン蒸着法で成長させた膜の結晶性評価
005 論文  オージェ電子分光法による深さ分析
006 論文  世界の高強度単色陽電子ビーム施設
007 論文  イオン誘起2次電子による準表面層の原子・電子状態の解析
008 論文  斜入射イオン散乱法による表面及び薄膜成長のその場解析
009 論文  中エネルギーイオン散乱分光法(MEIS)を用いた表面・界面の解析
010 論文  電子電離を用いたスパッタ二次中性粒子質量分析法による表面元素・深さ分析
011 論文  レーザー電離を用いたスパッタ二次中性粒子質量分析法による表面元素・深さ分析
012 論文  加速器を用いた鉱物-溶液界面における元素の挙動解明
013 論文  放射光X線を利用した電気化学における固液界面構造のその場観察
014 論文  シンクロトロン放射光を用いた軟X線発光分光法
015 論文  XAFS・DAFSによる局所構造解析